Phasics近紅外波前分析儀SID4-SWIR

Phasics近紅外波前分析儀SID4-SWIR

近日，法國Phasics為滿足客戶需求，推出基于四波橫向剪切干涉技術和高性能InGaAs探測器的高性價比SID4-SWIR近紅外波前分析儀，波段范圍900-1700nm，采樣點數量高達5120（80*64），靈敏度2nm，動態范圍100μm，采樣頻率120Hz。

SID4-SWIR近紅外波前分析儀具有非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.9到1.7μm，這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區域且不需要任何校準直接進行測量。

關于Phasics：法國PHASICS公司自主研發的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析等提供了全新的解決方案。 法國PHASICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發實力，能為客戶提供的自適應光學系統OA-SYS，制定個性化解決方案。可根據客戶的應用需求。

關于上海屹持：上海屹持光電技術有限公司作為Phasics中國區域代理商，同時也是一家專業從事激光領域相關產品的研發、引進、銷售、方案設計、組裝集成、技術服務的現代高科技企業。團隊成員具有專業光電背景和長期從業經驗，利用自身的專業優勢將優良的科研設備及服務提供給用戶。從單個產品到整體解決方案，從商務服務到技術支持，均獲得了廣大用戶的肯定和信賴。

Phasics近紅外波前分析儀SID4-SWIR主要應用領域：

1.       激光光束參數測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數

2.       自適應光學：焦斑優化，光束整形

3.       元器件表面質量分析：表面質量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑

4.       光學系統質量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數, 光學鏡頭/系統質量控制

5.       熱成像分析，等離子體特征分析

6.       生物應用：蛋白質等組織定量相位成像

Phasics近紅外波前分析儀SID4-SWIR產品列表：