1、環境控制溫濕度：保持恒溫（建議 23±2℃）與恒濕（40%~60% RH），避免溫漂影響IV測試精度。
潔凈度：防塵防靜電，灰塵會導致探針接觸不良或EL成像誤判。
暗室要求：EL測試時需完全避光（環境光＜5 lux），避免光源干擾成像。
2、設備校準與維護每日校準：IV測試前需用標準電池片校準（開路電壓、短路電流），確保數據溯源至標準。
探針保養：定期清潔探針表面氧化層，檢查壓力是否均勻（通常需0.1~0.3N），防止劃傷電池片或接觸不良。
鏡頭維護：EL相機鏡頭每周用無塵布清潔，避免污漬遮擋缺陷識別。
3、操作規范電池片放置：確保電池片平整無翹曲，機械手吸盤氣壓需適配厚度（薄片用低壓防碎）。
測試參數匹配：IV測試的電流量程、掃描速度需匹配電池類型（如HJT需低電流量程，TOPCon需快掃速）。
避免過測：EL測試時間不宜過長（通常＜3秒），防止電池過熱或發光衰減。
4、安全防護電氣安全：IV測試含高壓模塊（可達30V），接地必須可靠，操作時佩戴絕緣手套。
機械防護：設備運行時勿將肢體伸入傳送帶/機械臂區域，急停按鈕需保持可觸發狀態。
激光安全：定位激光器（Class 2以下）禁止直視，避免視網膜損傷。
5、數據與軟件管理數據備份：每日測試后備份原始EL圖像及IV曲線，防止數據丟失。
軟件更新：定期升級缺陷識別算法庫（如新增斷柵、PID等模型），提升檢出率。
權限管控：參數修改權限僅限工程師，避免誤操作導致批次數據異常。
