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專利號:200810114921
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圖像檢測、修復方法和圖像檢測、修復裝置

本發明提出一種圖像壞點檢測方法,包括:對至少三幀連續的圖像進行緩存,包括本幀圖像、至少一前幀圖像和至少一后幀圖像;確定本幀圖像中像素點分別相對于前幀圖像的前向運動矢量和相對于所述后幀圖像的后向運動矢量;根據前向運動矢量和后向運動矢量確定本幀圖像中像素點分別相對于前幀圖像的前幀運動補償點和相對于后幀圖像的后幀運動補償點;根據所述前幀運動補償點和所述后幀運動補償點對所述本幀圖像中所述像素點進行壞點檢測。本發明考慮了圖像在時間上和空間上圖像灰度與運動矢量相關的特點,根據運動矢量得到本幀圖像中像素點對應前后幀圖像中的運動補償點,從而提高壞點或壞塊的檢測精度,改進圖像中壞點或壞塊的修復的準確度。

圖像檢測、修復方法和圖像檢測、修復裝置

一種圖像壞點檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:    對至少三幀連續的圖像進行緩存,包括本幀圖像、至少一前幀圖像和至少一后幀圖像;    確定所述本幀圖像中像素點分別相對于所述前幀圖像的前向運動矢量和相對于所述后幀圖像的后向運動矢量;    根據所述前向運動矢量和所述后向運動矢量確定所述本幀圖像中所述像素點分別相對于所述前幀圖像的前幀運動補償點和相對于所述后幀圖像的后幀運動補償點;    根據所述前幀運動補償點和所述后幀運動補償點對所述本幀圖像中所述像素點進行壞點檢測。
 


  
專利號: 200810114921
申請日: 2008年6月13日
公開/公告日: 2008年11月5日
授權公告日:
申請人/專利權人: 北京中星微電子有限公司
國家/省市: 北京(11)
郵編: 100083
發明/設計人: 諶安軍
代理人: 梁永
專利代理機構: (11306)
專利代理機構地址: ()
專利類型: 發明
公開號: 101299799
公告日:
授權日:
公告號: 000000000
優先權:
審批歷史:
附圖數: 7
頁數: 22
權利要求項數: 24
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