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| 本發(fā)明公開了一種計(jì)算機(jī)斷層掃描成像裝置，該裝置包括：變劑量ＣＴ掃描模塊，用于根據(jù)掃描過程中Ｘ射線透照方向上待檢測物體有效厚度的變化，實(shí)時(shí)調(diào)整Ｘ射線源管電壓，并按照調(diào)整后的Ｘ射線源管電壓對(duì)所述待檢測物體進(jìn)行圓軌跡Ｘ－ＣＴ掃描，并將掃描得到的投影圖像發(fā)送給ＣＴ重建模塊；所述ＣＴ重建模塊，用于根據(jù)接收到的投影圖像進(jìn)行ＣＴ重建，得到所述待檢測物體的斷層圖像。本發(fā)明同時(shí)公開了一種計(jì)算機(jī)斷層掃描成像方法。本發(fā)明所述的裝置和方法適用于任意復(fù)雜結(jié)構(gòu)的待檢測物體，并且不受Ｘ射線透照方向上待檢測物體有效厚度變化的影響。 |
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一種計(jì)算機(jī)斷層掃描成像裝置和方法
一種計(jì)算機(jī)斷層掃描ＣＴ成像裝置，其特征在于，該裝置包括： 變劑量ＣＴ掃描模塊，用于根據(jù)掃描過程中Ｘ射線透照方向上待檢測物體有效厚度的變化，實(shí)時(shí)調(diào)整Ｘ射線源管電壓，并按照調(diào)整后的Ｘ射線源管電壓對(duì)所述待檢測物體進(jìn)行圓軌跡Ｘ－ＣＴ掃描，將掃描得到的投影圖像發(fā)送給ＣＴ重建模塊； 所述ＣＴ重建模塊，用于根據(jù)接收到的投影圖像進(jìn)行ＣＴ重建，得到所述待檢測物體的斷層圖像。
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| 專利號(hào): |
200810132397 |
| 申請(qǐng)日: |
2008年7月16日 |
| 公開/公告日: |
2008年11月19日 |
| 授權(quán)公告日: |
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| 申請(qǐng)人/專利權(quán)人: |
中北大學(xué) |
| 國家/省市: |
山西(14) |
| 郵編: |
030051 |
| 發(fā)明/設(shè)計(jì)人: |
韓焱、潘晉孝、王黎明、劉賓、陳平、陳方林 |
| 代理人: |
王琦 王誠華 |
| 專利代理機(jī)構(gòu): |
信息產(chǎn)業(yè)部專利服務(wù)中心(11018) |
| 專利代理機(jī)構(gòu)地址: |
北京市海淀區(qū)學(xué)院路40號(hào)(100083) |
| 專利類型: |
發(fā)明 |
| 公開號(hào): |
101308102 |
| 公告日: |
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| 授權(quán)日: |
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| 公告號(hào): |
000000000 |
| 優(yōu)先權(quán): |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數(shù): |
1 |
| 頁數(shù): |
15 |
| 權(quán)利要求項(xiàng)數(shù): |
4 |
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